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产品信息
JENOPTIK测头传感器 HW902 224396 32.90081
Jenoptik开发了新一代光学测量系统,使生产过程中的质量控制更容易。
Jenoptik OPTICLINE测量系统
多年来,Opticline系列测量系统已成为光学轴测量技术的基准。它们具有令人印象深刻的高测量速度,JQ度的易用性。 2015年,推出了新一代产品,提供了多项技术创新和优化。我们的系统可以在生产中实现高效透明的质量控制
明显更接近
Opticline测量系统专门设计用于恶劣的生产环境。它们非常坚固,不受外部影响。它们还提供集成的自我监控功能,确保大的系统可用性。
我们的光学系统可以对您的工件进行以下测量:
尺寸测量(长度和直径,半径和角度)
螺纹尺寸(尺寸,形状)
形状测量(直线度,圆度,圆柱度)
型材形式(自由形式,公差范围,凸轮形状)
位置测量(径向跳动和轴向跳动,直线度,对称性和平行度,同心度和同轴度)