上海闻企电子科技有限公司

镀金，6MHz             P/N:SPC-1157-G10镀金，6MHz             P/N:008-010-G10银铝合金，6MHz      P/N:750-1022-G10镀金5MHz                 P/N:750-225-G2                                 P/N:750-1026-G10双面镀金：               P/N:750-1028-G106M晶振片。为限度地提高晶控片（晶振片）的使用寿命、稳定而准确的沉积速率控制，每个晶控片（晶振片）都经过如下检查：1）。阻抗阻抗的检查有助于保证测量的稳定性和晶控片（晶振片）的使用寿命。阻抗指标体现了晶控片的电接触性和电极粘连度。2）。频率确保起始频率在较小范围内，有助于确保您准确的厚度测量。

曲率曲率的测试，是为了保证共振的稳定性，差劲的曲率将降低晶控片（晶振片）测量过程的稳定性。