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AMETEK XRF/EDS 的 SDD X 射线探测器XR-100SDD

Amptek zui近在内部引入了硅晶片制造工艺并改进了此工艺。他们生产出的探测器具有更低的噪声、更低的泄漏电流、更好的电荷收集能力，并且探测器之间的一致性更好。

XR-100SDD 是一种热电冷却固态硅漂移探测器（SDD）和前置放大器。  推荐用于需要zui佳能量分辨率、极高计数率和zui低 X 射线能量的应用。  由于性能高、尺寸小和成本低，这使它成为许多实验室和 OEM X 射线光谱测量应用（包括 EDS 和 XRF）的理想探测器。

XR-100SDD 在 Mn Kα 线的分辨率为 125 eV FWHM（电子噪声 4.5 个电子 rms），峰背比为 20,000:1，输出计数率超过 500 kcps，并可检测到低至 Be Kα 线（110 eV）的 X 射线。  它的有效面积为 25 mm2，厚度为 500 μm。

标准 XR-100SDD 采用 0.5 密耳 Be 窗口，可在 2 keV 以上提供良好的效率。对于更低的能量，FAST SDD? 的可选zhuan利 C 系列窗口可提供低至 B 线的良好效率。   如需 >200 kcps 的计数率，建议使用 FAST SDD?。

在 XR-100SDD 中，探测器安装在延长管上（有多种不同的长度），前置放大器安装在连接的金属盒中。它需要单独的信号处理器和电源；推荐使用 Amptek PX5，它非常适合大多数实验室应用。同样的 SDD 探测器也被用在较小的 X-123SDD 封装设计中，或与较小的前置放大器一起用于 OEM 和定制系统。